Advance in Nano-Level Materials Characterization Technology
橋 本 操
Misao HASHIMOTO
抄 録
三次元アトム・プローブなどナノレベル解析技術の最近の進展についてまとめた。また，動的観察技術の重要
性，そしてそれらの技術展望について述べた。
Abstract
The recent development of nano-level materials characterization technology such as three-dimensional
atom probe was reviewed. The importance of the technique that enables the dynamical observation
was also described, combined with its future scope in nano-level characterization.
信息来源：〔新日鉄技報 第381号〕（2004）
